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泰勒霍普森便攜式粗糙度儀SURTRONIC DUO測量能力

參數(shù)覆蓋：支持 Ra（算術(shù)平均粗糙度）、Rz（十點高度）、Rp（最大波峰高度）、Rv（最大波谷深度）、Rt（輪廓總高度）等基礎(chǔ)參數(shù)，符合 ISO 4287 標準。

量程范圍：Ra 最大 40μm（1600μin），Rz/Rv/Rp/Rt 最大 199μm（7800μin），分辨率達 0.01μm（0.4μin）。

精度與重復(fù)性：測量精度為讀數(shù)的 ±5% + 0.1μm，重復(fù)性誤差≤2% 讀數(shù) + 噪聲（噪聲水平 0.1μm）。

硬件設(shè)計

傳感器：采用金剛石測針（半徑 5μm），配合壓電式傳感器，確保耐磨和高靈敏度。

驅(qū)動系統(tǒng)：導(dǎo)塊式設(shè)計（導(dǎo)塊半徑大，自動過濾波紋度），驅(qū)動長度 5mm，速度 2mm/s，支持水平、垂直等多方向測量。

顯示與操作：2.4 英寸彩色 LCD 觸摸屏，聚脂薄膜覆蓋提升耐用性，三鍵導(dǎo)航菜單簡化操作，支持 μm/μin 單位切換。

環(huán)境適應(yīng)性

耐用性：膠塑型材機身防護等級達 IP54，適應(yīng) 5-40℃溫度、0-80% 濕度的車間環(huán)境。

續(xù)航能力：鋰電池充電 4 小時可完成 10,000 次測量，待機時間 5,000 小時，支持 InstantOn 快速啟動（5 秒內(nèi)就緒）